Abstrak :
Surfaktan adalah zat yang ditambahkan pada cairan seperti detergen. Detergen umumnya merupakan surfaktan anionik. Parameter untuk mengetahui kinerja surfaktan yaitu Konsentrasi Misel Kritik (KMK). Penelitian ini memiliki tujuan untuk memprediksi QSPR persamaan matematika dari surfaktan anionik sulfat. Penelitian dilakukan dengan memodelkan senyawa surfaktan anionik sulfat ke model tiga dimensi, dioptimasi dengan Hyperchem 8.0 pada metode perhitungan ab initio dengan himpunan basis Large (6-31G**), serta perhitungan deskriptor yang akan dianalisis dengan Multiple Linear Regression (MLR) menggunakan SPSS versi 25.0. Analisis MLR menggunakan dua jenis senyawa yaitu senyawa fitting dan senyawa uji. Nilai terbesar dari setiap deskriptor yaitu pada muatan atom Cpolar sebesar 0,2361 C, muatan atom Cnonpolar sebesar -0,3331 C, polarisabilitas sebesar 37,78 Å, momen dipol sebesar 11,0394 D, indeks refraksi sebesar 100,26 Å3, koefesien partisi n-oktanol-air sebesar 8,68, berat molekul sebesar 386,57 s.m.a, volume Van der Waals sebesar 1241,99 Å3, dan luas permukaan Van der Waals sebesar 747,57 Å2. Kualitas statistik metode backward yang didapat yaitu r = 0,995 ; r2 = 0,990 ; SE = 0,09888 ; Fhitung/Ftabel = 2,80049 pada model ketiga. Variabel tak bebas yaitu Log KMK. Variabel bebas yaitu Log P, volume Van der Waals, Luas permukaan Van der Waals, momen dipol, q.Cpolar, q.Cnonpolar. Hasil perhitungan dengan parameter statistik diperoleh n = 13 ; r = 0,950 ; r2 = 0,902 ; SE = 0,31105 ; Fhitung/Ftabel = 2,138286 ; PRESS = 0,612894.
Kata kunci : ab initio, himpunan basis Large (6-31G**), KMK, surfaktan anionik sulfat.
|
